Тестер микросхем высокочастотных импульсных преобразователей напряжения

185532

G01R31/28

Заявка: 2018105163, 12.2.2018

Опубликовано: 7.12.2018. Бюл. № 34

Авторы: А.Ю. Дракин, В.Ф. Зотин, Л.А. Потапов, А.Н. Школин, И.Ю. Бутарев

Патентообладатель: ФГБОУВО "Брянский государственный технический университет"

ТЕСТЕР МИКРОСХЕМ ВЫСОКОЧАСТОТНЫХ ИМПУЛЬСНЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ НАПРЯЖЕНИЯ

Формула полезной модели

Тестер микросхем высокочастотных импульсных преобразователей напряжения, содержащий модульную измерительную установку (МИУ), состоящую из модулей источников и измерителей токов и напряжений, модулей выдачи и модулей приема аналоговых и цифровых сигналов, модуля центрального контроллера, подключенных к общей для МИУ внутренней шине, и подключенную к внешним разъемам модулей МИУ интерфейсную часть для согласования МИУ и тестируемой микросхемы, отличающийся тем, что интерфейсная часть тестера состоит из общего для различных типов тестируемых микросхем коммутатора, содержащего необходимый набор реле, коммутируемых программой, записанной в памяти МИУ для каждого отдельного теста, с возможностью присоединения к коммутатору с помощью разъема индивидуального для конкретного типономинала микросхем адаптера, содержащего необходимый для задания режима работы микросхемы набор пассивных элементов и устройство контактирования с тестируемой микросхемой.