178677
G01R31/28
Заявка: 2017133896, 28.9.2017
Опубликовано: 17.4.2018. Бюл. № 11
Авторы: Л.А. Потапов, В.Ф. Зотин
Патентообладатель: ФГБОУВО "Брянский государственный технический университет"
ТЕСТЕР ШИМ КОНТРОЛЛЕРОВ
Формула полезной модели
Тестер ШИМ контроллеров, содержащий основной блок, тест-адаптер, контактирующее устройство и десять модулей с однокристальными микроконтроллерами (ОМК), отличающийся тем, что два измерительных модуля перенесены в адаптер, а измерительные цепи, чувствительные к помехам, максимально приближены к контактирующему устройству и выводам испытуемой микросхемы.
