190700
H01L21/00, H01L29/00
Заявка: 2019109469, 1.4.2019
Опубликовано: 9.7.2019. Бюл. № 19
Авторы: Н.А. Брюхно, В.В. Стрекалова, А.Ю. Фроликова
Патентообладатель: ЗАО "ГРУППА КРЕМНИЙ ЭЛ"
ТЕСТОВЫЙ ПЛАНАРНЫЙ ТРАНЗИСТОР
Формула полезной модели
Тестовый планарный транзистор, состоящий из слоя базы, повторяющего его слоя эмиттера, как и в рабочем транзисторе, контактов к базе, отличающийся тем, что контакт к базе выполнен в слое эмиттера таким образом, что его площадь равна сумме площадей базовых контактов в рабочем транзисторе.
