185532
G01R31/28
Заявка: 2018105163, 12.2.2018
Опубликовано: 7.12.2018. Бюл. № 34
Авторы: А.Ю. Дракин, В.Ф. Зотин, Л.А. Потапов, А.Н. Школин, И.Ю. Бутарев
Патентообладатель: ФГБОУВО "Брянский государственный технический университет"
ТЕСТЕР МИКРОСХЕМ ВЫСОКОЧАСТОТНЫХ ИМПУЛЬСНЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ НАПРЯЖЕНИЯ
Формула полезной модели
Тестер микросхем высокочастотных импульсных преобразователей напряжения, содержащий модульную измерительную установку (МИУ), состоящую из модулей источников и измерителей токов и напряжений, модулей выдачи и модулей приема аналоговых и цифровых сигналов, модуля центрального контроллера, подключенных к общей для МИУ внутренней шине, и подключенную к внешним разъемам модулей МИУ интерфейсную часть для согласования МИУ и тестируемой микросхемы, отличающийся тем, что интерфейсная часть тестера состоит из общего для различных типов тестируемых микросхем коммутатора, содержащего необходимый набор реле, коммутируемых программой, записанной в памяти МИУ для каждого отдельного теста, с возможностью присоединения к коммутатору с помощью разъема индивидуального для конкретного типономинала микросхем адаптера, содержащего необходимый для задания режима работы микросхемы набор пассивных элементов и устройство контактирования с тестируемой микросхемой.
